项目背景与目标
集成电路(IC)版图识别是半导体制造和EDA(电子设计自动化)领域的关键技术。随着芯片设计复杂度不断提升,传统基于像素匹配的方法在处理旋转、缩放等几何变换时面临巨大挑战,基于几何计算的传统算法也面临计算复杂度高,运行时间长等问题。
项目核心目标:
- 开发旋转鲁棒的IC版图描述子 (Rotation-Robust Descriptors, RoRD),解决传统方法对几何变换敏感的问题
- 实现高精度的版图几何特征匹配 支持多尺度、多实例的版图检索
- 构建端到端的版图识别解决方案 为半导体设计和制造提供关键技术支撑
解决的关键问题
几何变换不变性
IC版图在设计过程中经常需要旋转(0°、90°、180°、270°),传统方法无法保持特征一致性
IP库动态扩展
IP核库、标准单元库等模板库规模庞大且动态更新,该方案灵活适应新模板,而无需频繁进行昂贵的重训练。
数据稀缺性
监督学习依赖大量精细标注数据,但在高度专业的版图领域,获取像素级或边界框标注的成本极其高昂。
实时性要求
工业应用对处理速度的严格要求,需要支持批量处理和并发推理
技术背景与现有解决方案
传统方法局限性
| 方法 | 优点 | 缺点 |
|---|---|---|
| 像素直接匹配 | 简单直观 | 对旋转敏感,鲁棒性差 |
| SIFT/SURF特征 | 尺度不变性 | 不适合IC版图的几何特性 |
| 深度学习分类 | 端到端学习 | 需要大量标注数据 |
| 传统哈希匹配 | 速度快 | 精度有限,不处理几何变换 |
本项目技术优势
基于RoRD模型的创新解决方案,专门针对IC版图的特殊几何特性进行优化:
- 曼哈顿几何约束: 专门针对IC版图的曼哈顿几何特性优化
- 扩散模型数据增强: 基于真实数据的智能合成,训练数据量提升数倍
- 多尺度特征融合: 一定程度上支持不同工艺的版图处理
- 端到端自动化管线: 从原始数据到训练模型的完整自动化流程